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目标低频RCS的紧缩场测试研究
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目标低频RCS的紧缩场测试研究
内容简介：紧缩场低频工作时边缘绕射明显增强,且微波暗室内有限高度的吸波材料低频性能相对较差,使得紧缩场静区的低频幅相特性起伏变大,静区背景电平升高,从而导致紧缩场的目标低频雷达横截面(RCS)测试精度相对高频段会变差.此外,定标球在低频段呈现的RCS振荡幅度较大,也对测试结果带来不确定性.针对紧缩场进行目标低频RCS测试精度的实验研究,并将被测目标的RCS实验值和理论值进行对比,验证了该紧缩场的低频RCS测试性能可满足目标的低频RCS性能测试需求.
作者：潘宇虎, 李小秋, 牛宝君, 高铁, 何丙发,
关键词：雷达散射截面, RCS, 紧缩场, 低频RCS测试, 测试精度
