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如何在平面波激励下观察S参数
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最近看了一篇文献:
《Low-Cost Multiple-Bit Encoded Chipless RFID Tag UsingStepped Impedance Resonator》
C. M. Nijas, U. Deepak, P. V. Vinesh, R. Sujith,S. Mridula
关于无芯片标签的文章,文献中的模型提出:
The finite elementmethodbased Ansys HFSS software with plane wave or linear antenna wave
(used for thesimulation of far field of a linear antenna)
excitation is used for simulationin which the source is placed at a distance of 10 cm above the tag.
但是他所有的仿真结果观察的却统统为S参数的结果,
但是,我自己学习到的知识是, 如果激励添加为Plane Wave 中Incident Wave 在 查看结果Result时候 没有S参数选项啊,只有RCS参数选项。
因此 想请教各位大神,按照这篇文献的讲述的在平面波激励下仿真结果如何观察S参数?
《Low-Cost Multiple-Bit Encoded Chipless RFID Tag UsingStepped Impedance Resonator》
C. M. Nijas, U. Deepak, P. V. Vinesh, R. Sujith,S. Mridula
关于无芯片标签的文章,文献中的模型提出:
The finite elementmethodbased Ansys HFSS software with plane wave or linear antenna wave
(used for thesimulation of far field of a linear antenna)
excitation is used for simulationin which the source is placed at a distance of 10 cm above the tag.
但是他所有的仿真结果观察的却统统为S参数的结果,
但是,我自己学习到的知识是, 如果激励添加为Plane Wave 中Incident Wave 在 查看结果Result时候 没有S参数选项啊,只有RCS参数选项。
因此 想请教各位大神,按照这篇文献的讲述的在平面波激励下仿真结果如何观察S参数?
申明:网友回复良莠不齐,仅供参考。如需专业解答,请学习易迪拓培训专家讲授的HFSS视频培训教程。
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