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CST MWS I算法求解单站RCS是否可以进行扫频设置
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如题,利用I算法的 Fast RCS Sweep求解单站RCS是否可以添加扫频设置?如果有如何添加?
因为需要,必须计算一个介质目标的单站RCS,所以A算法用不了了。而I算法里面的快速RCS里又没找到扫频的设置,我知道有双站远场监视器的宏,但是单站RCS就不知道怎么办了,请各位大大帮忙解答
因为需要,必须计算一个介质目标的单站RCS,所以A算法用不了了。而I算法里面的快速RCS里又没找到扫频的设置,我知道有双站远场监视器的宏,但是单站RCS就不知道怎么办了,请各位大大帮忙解答
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看看在这里设置一下from to能不能解决扫频问题。
网友回复:
提供一个新思路,如果是介质的话可以用涂覆操作,这样就可以在A中仿真了
网友回复:
感谢楼主提供是思路,您提供的方法测试不可用,提示扫频只能在S参数定义下使用
不过可以再下面Single Samples里面手动多添加几个频率。
网友回复:
可是用涂敷的话岂不是要加入PEC材料了,要是计算的就是单纯的介质材料呢?
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这个我倒是没考虑到,要是只有介质的话 就只能用I了
网友回复:
翻了下help,A算法简介
Please note: The solver currently only supports scattering at PEC or surface impedance type objects with vacuum background materials and open boundary conditions.
网友回复:
概括起来一句话:A只能求解真空中无耗媒质的远场问题
网友回复:
那有人用T求解器计算过PEC上涂覆材料吗
网友回复:
你说的Single Samples是所谓的后处理模型吗 或是在列表中的farfiled下吗 那里的RCS好像是双站RCS啊
申明:网友回复良莠不齐,仅供参考。如需专业解答,请学习易迪拓培训专家讲授的CST视频培训教程。