关于仿真结果的SE处理

作为一个新手，进入论坛厚收货颇丰，这两天一直在看需要的帖子，看大神们的回复，自己尝试着去做，努力看Help文件。看到有个帖子里 说用Template based postprocessing可以计算腔体屏蔽效能的SE值，但是自己尝试了很久，只能做到这一步

然后以就不知道怎么处理了，找不到“减”货真任何可以把两个探针结果进行处理的选项啊，帮助文件了也没找到说明，我是不是忽视了什么?希望懂的大神能教教我

general 1D→ mix 1D

昨天尝试mix了 第一次用的Log10A-Log10B的公式，能得到1D结果，后来想尝试一下Log10(A/B)，怎么就不行了，公式输入完在TEMPLATE里自动识别成0D了，然后就无法运算，是公式错了么?

1. 计算屏蔽效能SE的话 肯定是计算电场场强，不是能量   所以 一定是log20 不是log10
2. 为何不直接把探针处的dB值先取出来 然后直接 A-B。

恩，昨天都试过了 差不多算是解决了，现在就是精度太差，还在摸索，做不到别人的那中水平。非常感谢你耐心的解答！

CST有本丛书15中有关于SE仿真的介绍，我也是从那里面学的，建议你也看看

看了呢，看来看的不够仔细。另外能不能问下，我在看PLANE WAVE波形时，可能激励时间只有十几ns，但是图上的时间轴一直到到了250ns，这样波形看起来就特别窄，看不清，这个能手动解决么?

右键plot properties把那个auto scale勾掉，选择合适的x轴范围即可。

试了试，成功了成功了 太感谢了！

小编求助  求SE 是要设置两个探针是吗?   一个在导体内  另一个呢?  再说必须要自己用20log（E1/E2) 设置公式来求SE吗 ?  没有直接像HFSS中直接设一个点即可求SE的方法吗?   我是新手求助

申明：网友回复良莠不齐，仅供参考。如需专业解答，请学习易迪拓培训专家讲授的CST视频培训教程。