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CST MS平板屏蔽效能
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各位大侠好：
我想请教一下，再算平板屏蔽效能时，为什么将平板设为真空和将其删去的仿真结果不一样，且设置为真空时测得的信号只有几百毫分贝，不符合常理，谁能帮我解释一下，不胜感激
（cst ms工作室：
1. 激励为平面波；
2. 平板材质为Al，尺寸：长宽高非别为100，100，2 mm；
3. 接受探针：位于平板中心后50 mm）
我想请教一下，再算平板屏蔽效能时，为什么将平板设为真空和将其删去的仿真结果不一样，且设置为真空时测得的信号只有几百毫分贝，不符合常理，谁能帮我解释一下，不胜感激
（cst ms工作室：
1. 激励为平面波；
2. 平板材质为Al，尺寸：长宽高非别为100，100，2 mm；
3. 接受探针：位于平板中心后50 mm）
上传模型看一下吧。
这个知道了，是因为将平板去掉后探针处于网格外，计算无效。但还有一个问题，计算有缝隙箱体的屏蔽效能时，为什么在8mm之下的场强值异常的大，且为一条直线
我想，这个问题你需要给出你平面波激励的主要频率范围，或者给出你仿真的频率范围。一条直线，是指在频域是一条直线?我猜想是不是网格不够密，无法分辨你的缝隙。
激励是直接用的平面波，仿真频率已设置，从1KHz至1MHz
上传模型吧，这样算命很难的
做屏蔽效能，这个频率范围好像太小了
1MHz的上限频率，最小分辨尺寸为多少，你可以看一下，应该是你没有分辨出8mm这个缝隙。你可以将最小的网格尺寸调整为2mm尝试一下。估计会算的很慢。
确实是最小网格设置问题，多谢您
不好意思，是我着急写错了，1kHz-1GHz
申明：网友回复良莠不齐，仅供参考。如需专业解答，请学习易迪拓培训专家讲授的CST视频培训教程。
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