每次看天线实部和虚部都需要点选相应的功能键切换视图，有什么方法能让实部和虚部整合到一张图上，同时显示出来呢？

你在查看阻抗实部和虚部一下子选中这两个不就可以了吗

好像还真不行，即使copy也是只同时支持一种视图，求大神来讲解。

目前只能做到如此...但我不知意义何在！?

意义在于我是做rfid天线的，要求设计的天线实部和虚部需要和芯片呈共轭匹配这样才能够达到最大的效率传输。

做RFID，仿真的话，电感量可以参考还是蛮准的，像损耗电阻，自谐振频率，及自谐振实部计算和实际差的还是有些大。

其实依劣者之见...只要smith chart 就足够了！ 信不信！? 你都会说是共轭匹配了，岂不知smith chart 要告诉你的正是共轭复数！

因为我是做参数优化，在add Watch 当中我是将Z11的实部和虚部分别作为考察对象来设置的，当我在视图模式中选择smith 的时候会报错，不知道怎么设置Z11这个复数来作为观察对象。我只要选择了Z11，软件会让我选择实部还是虚部?看下图，希望高人能指点一下

手上有个芯片，送检上海ICC ，测试结果在915Mhz的阻抗约为38-j225，在一种FR4微带板偶极子天线（标准形式，用来验证芯片）做更改（见附件），调节馈电处开矩形窗，调节实部和虚部，仿真（见附件）优化后，确定尺寸为8*27mm，手割后（见附件）实测距离反而减小，郁闷了?估计应该是你说的电感还可参考，电阻值差别较大，手割有误差，仿真发现在尺寸在8*27mm附近，S11变化还很大?不知现在该如果调试板子了?现在有种方案，就是去除芯片，焊连接头，在矢网上调试，可是如何消除连接头引入的误差呢?高人可有什么意见?

如果想同时看实部和虚部，可以使用后处理，把实部和虚部提出来，然后拷贝到一个文件夹中

谢谢，按照你的方法问题解决了，谢谢，

Macros -> Results -> 1D Results -> Create Real and Imaginary Plots from Complex
可以直接在一个图中显示出来实部和虚部

没有找到你说的Create Real and Imaginary Plots from Complex?你用cst哪个版本?

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