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CST MWS谐振频率测试时遇到的问题
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本人最近在做关于谐振器谐振频率的一些测试,由于CST刚学不久,很不熟练,此外之前也不是微波通讯相关专业,目前遇到点问题,希望大家能帮助解答,谢谢!
我的模型是在PCB基板(7×7×1mm)上刻蚀出两条有缺口的同心铜环(铜环厚度可不计),并分别在铜环的缺口及铜环间添加不同的材料来测试期间的谐振效应(波由X方向射入)。起初在测试时就发现有S21参数大于零的问题,当时不清楚原因,无意中减小了铜环的厚度(由0.2mm变到0.02mm),该问题得到解决。后来当添加材料的位置及参数改变时,S参数再次大于零。改变网格参数也没效果。我想请教各位高手这个S参数大于零的原因,谢谢
我的模型是在PCB基板(7×7×1mm)上刻蚀出两条有缺口的同心铜环(铜环厚度可不计),并分别在铜环的缺口及铜环间添加不同的材料来测试期间的谐振效应(波由X方向射入)。起初在测试时就发现有S21参数大于零的问题,当时不清楚原因,无意中减小了铜环的厚度(由0.2mm变到0.02mm),该问题得到解决。后来当添加材料的位置及参数改变时,S参数再次大于零。改变网格参数也没效果。我想请教各位高手这个S参数大于零的原因,谢谢
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