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CST MWS仿真微带贴片类型的谐振结构,改变基板的尺寸,谐振频率相差很多?

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CST仿真微带贴片类型的谐振结构,改变基板的尺寸,谐振频率相差很多?
原因是不是,当我设置了四周边界是电边界,但是谐振结构的上方不是电边界所致,请大家帮忙
结构模型如下

 

看不到模型,不知道你所说的改变基板尺寸是怎么实现的。正常来讲,如果不需要远场数据的话,普通电边界或者conducting wall就是正常的设置。为什么上面不是电边界?下面也不是么?

 

我觉得好像网格太稀了

 

我设置的四周全是电边界的

 

那就要先怀疑你的网格属性了。
Global Mesh Properties是怎么设置的?有没有设置Local Mesh Properties?基板的尺寸是多少?改变的幅度是多少?
改变基板尺寸会改变仿真空间的大小,有没有检查网格属性是否发生改变?

 

是的,改变基板尺寸肯定是会改变仿真空间的,不过我刚尝试了另外一种情况,基板不改变,只改变背景材料Z轴方向的offset,可是仿真结果还是有变化的,因为此方向,增加空间后,我认为并不改变此模型的网格剖分,只是此方向的电边界向Z轴方向移动了,导致结果发生变化,
另外,软件给的例子中,仿真的是微带线结构,微带线的Z轴方向的边界的确是电边界的,因为它传递的是准tem波,但是我的模型,基板上是个圆形的谐振贴片,不同的模式下,z轴的边界条件不一定是电边界,比如TM11,这个模式z方向的边界是复杂的,在实际中,如果是无屏蔽的谐振器,此方向就更不一定是电边界,不同模式下,Z方向有混合的边界,强制将其设置为电边界是不明智的,所以,模型尺寸变化,产生频率变化,我认为此软件仿真腔体准确度高,而半开放的,Z方向是混合边界的模型,此软件无能为力。

 

在下理论比较弱,只懂一点点软件,提个愚见。
你的仿真模型,不是只设置了仿真一个模式吗?这个模式,是你比如的TM11吗?

 

CST本征模仿真,仿真前15个模式,我用parameter sweep,扫描贴片正方向背景材料的高度,跟踪每个模式的频率,结果发现,随着尺寸的改变,谐振频率,每个模式都发生变化。

 


等等。
我觉得似乎你这个问题很奇怪呀。
本征模仿真,一般来说是可以用来仿真腔体结构的谐振频率,你这个要仿真的物体,是腔体吗?
如果你把整个要仿真的物体的boundry扩大,且边界条件是电壁的话,那么这个Draw box的大小就应当是整个腔体的大小,被这个基板(铜的)隔开的两个/三个腔体本身也会发生谐振,所以你计算的15个本征模式频率应当不只是你这个被仿真物体本身的谐振频率了。
所以建议你在一次仿真完15个本征模式频率后,不要急于修改模型的尺寸,而是在相应频点上定义电场监视器,然后通过监视频点上的谐振,来看究竟是你的物体本身的谐振,还是由于电壁形成的腔体的谐振。
对于更加复杂的结构,本征模求解器其实算的频率,极有可能是在不需要关注的位置上的谐振,所以必须要定义场监视器来观察!这一点我在做复杂机箱SE前需要得到箱体谐振频率的时候已经发现了,很多谐振频点都是在螺钉的位置振,跟我要的箱体谐振频率根本没关系~

 

经过仿真验证,结果如下:



本征模第一个模式是0hz略去



第二个本征模是空气盒子的谐振,有点类似于矩形波导谐振腔的场模TE10
电场分布



磁场分布



第三个模式是真正的贴片谐振TM11
电场分布


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