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CST缝隙屏蔽效能计算
在采用CST计算缝隙结构的屏蔽效能的过程中,遇到两个问题:(1)是模拟平面波时的边界条件设置不知是否合理;(2)个人认为屏蔽效能结果不对,但不清楚问题出在哪里。
上图为需要模拟的缝隙结构,结构由上下两块金属板构成,中间形成宽度为0.6mm的缝隙,两块金属板的尺寸分别为100mm×60mm×2mm,缝隙尺寸为100mm×0.6mm×2mm。为了获得缝隙结构后方的屏蔽效能,在距离缝隙一定距离处的中心位置放置Y方向电场探针(Y方向为平面波的电场方向,当电场方向与缝隙走向垂直时,电场更容易耦合穿过缝隙)。
为了模拟平面波的照射,在确定平面波的电场方向后,利用电边界和磁边界的设置来模拟平面波的设置,不知这种处理方法是否合理,对探针位置的电磁场分布仿真结果影响是否比较大。曾看到过CST的一个资料是将四周的边界条件(除平面波传播的两个方向外)设置为OPEN,但这种设置会导致计算时间变得很长,很难收敛(不是搞算法出身,不清楚原因,望指教)。
计算中采用的是高斯脉冲作为激励信号,通过傅里叶变换,关心频段内的幅度归一化为0dB在对边界条件进行设置后,计算获得上图所示的计算结果。图中所示的负值表示的是经过缝隙结构衰减的量,其相反数对应的即是不同频率下的屏蔽效能。然而,从物理机理上大概可以判断,频率越高,屏蔽效能越小,即应该出现的曲线走势应该是随着频率增大而增大,而计算得到的曲线是随着频率增大而减小,呈现出相反的趋势,不知是何原因,是边界条件的设置有问题,还是有什么地方没有考虑到?
这个问题感觉会low,依然希望各位牛人多多指教。
附件是CST计算模型(2014版本)。
附件: MF.zip (12 K)
问题描述:
在采用CST计算缝隙结构的屏蔽效能的过程中,遇到两个问题:(1)是模拟平面波时的边界条件设置不知是否合理;(2)个人认为屏蔽效能结果不对,但不清楚问题出在哪里。
上图为需要模拟的缝隙结构,结构由上下两块金属板构成,中间形成宽度为0.6mm的缝隙,两块金属板的尺寸分别为100mm×60mm×2mm,缝隙尺寸为100mm×0.6mm×2mm。为了获得缝隙结构后方的屏蔽效能,在距离缝隙一定距离处的中心位置放置Y方向电场探针(Y方向为平面波的电场方向,当电场方向与缝隙走向垂直时,电场更容易耦合穿过缝隙)。
为了模拟平面波的照射,在确定平面波的电场方向后,利用电边界和磁边界的设置来模拟平面波的设置,不知这种处理方法是否合理,对探针位置的电磁场分布仿真结果影响是否比较大。曾看到过CST的一个资料是将四周的边界条件(除平面波传播的两个方向外)设置为OPEN,但这种设置会导致计算时间变得很长,很难收敛(不是搞算法出身,不清楚原因,望指教)。
计算中采用的是高斯脉冲作为激励信号,通过傅里叶变换,关心频段内的幅度归一化为0dB在对边界条件进行设置后,计算获得上图所示的计算结果。图中所示的负值表示的是经过缝隙结构衰减的量,其相反数对应的即是不同频率下的屏蔽效能。然而,从物理机理上大概可以判断,频率越高,屏蔽效能越小,即应该出现的曲线走势应该是随着频率增大而增大,而计算得到的曲线是随着频率增大而减小,呈现出相反的趋势,不知是何原因,是边界条件的设置有问题,还是有什么地方没有考虑到?
这个问题感觉会low,依然希望各位牛人多多指教。
附件是CST计算模型(2014版本)。
附件: 问题描述.doc (95 K)
不懂原理。如果下面的这个帖子帮不到你的话,我也不懂其它更多的东西了。
换了个算法,规律好像差不多。
激励信号
探针
TLM求解
三个探针上的电场波形
探针上电场频域值
如果仿真没问题的话,那么某些直观的物理认知可能是有偏差的。
申明:网友回复良莠不齐,仅供参考。如需专业解答,请学习易迪拓培训专家讲授的CST视频培训教程。
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