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用CST仿真周期性超材料结构的时候,如何改变极化角?
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请教,用CST仿真周期性超材料结构的时候,如何改变极化角?
1) 时域仿真,设置电边界和磁边界,画出多个单元结构,如5x5, 旋转样品或是在波导端口里面设置极化角,结果总是有问题;
2)频域有unit cell边界条件仿真,可以改变极化角,但是无法滤波,振荡太多。
1) 时域仿真,设置电边界和磁边界,画出多个单元结构,如5x5, 旋转样品或是在波导端口里面设置极化角,结果总是有问题;
2)频域有unit cell边界条件仿真,可以改变极化角,但是无法滤波,振荡太多。
你要怎么滤波?
例如,以25um厚的polyimide为衬底,上面刻周期性超材料结构,可以用频域仿真设成unit cell 边界条件,得到S参数;如果以500um厚的高阻硅为衬底刻周期性超材料结构,用频域仿真设成unit cell 边界,得出的S参数会振荡太多,这是由硅衬底引起的的法布里帕罗振荡。用时域仿真可以滤除掉后面的振荡信号,但是没法改变极化角。
我想得到的是以硅为衬底的超材料,改变极化角得到不同的S参数。
例如,以25um厚的polyimide为衬底,上面刻周期性超材料结构,可以用频域仿真设成unit cell 边界条件,得到S参数;如果以500um厚的高阻硅为衬底刻周期性超材料结构,用频域仿真设成unit cell 边界,得出的S参数会振荡太多,这是由硅衬底引起的的法布里帕罗振荡。用时域仿真可以滤除掉后面的振荡信号,但是没法改变极化角。
我想得到的是以硅为衬底的超材料,改变极化角得到不同的S参数。
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